用于瓦里安ICP-MS的超纯室设备：
因为半导体元件冷热收缩和药品污染的承受力降低，使用ICP-MS对化学试剂的质量控制和整体决定就变得更加关键。瓦里安ICP-MS的超纯室设备，可以为您提供所需要的免污染环境。该套设备与瓦里安ICP-MS的生产指导标准相结合，完善的系统可以使您在高度灵敏的环境条件下达到可能得到的最低检出限。
优点：
- 整体上维持在高度灵敏的环境。 所有的真空泵都被装设在仪器内部，从泵体和仪器内交换出的气体将被排除在整个清洁环境之外。
- 节省实验室空间。 所有的泵都被设置在ICP-MS仪器机体内部，确保在任何商业上通用的ICP-MS系统中是最小的。
- 该环境下的ICP-MS最灵敏。 适合使用此超纯室设备的瓦里安ICP-MS，将来自氧化物离子的干扰维持在最低限度的同时，可提供高达数千兆赫的灵敏度（超过10亿计数每秒每mg/L）
- 临界冷等离子工作性能。 瓦里安ICP-MS的特色在于取得了专利权的Turner Interlaced 线圈。这种90度离子反射离子光学设计可以获得高灵敏度，低背景。
- 在保持高灵敏度的状态下降低背景。 瓦里安ICP-MS的特点在于使用了拥有专利的具有弯曲入口杆的两离轴的四极杆设计。
- 尽可能低的检出限。 瓦里安的ICP-MS，通过在样品制备和引入过程中尽可能地降低和控制污染，提供了大大改善的检测灵敏度。
包含了一个O型环惰性样品引入装置的环境净化设备由以下部分组成：
- 惰性PFA，双通道喷雾室Peltier制冷，从而把来自氧化物离子的干扰降至最低。也可以进行腐蚀性样品和包括氢氟酸在内的酸性物质的分析。
- 对使用氢氟酸来说，采用低流速和惰性PFA喷雾是必要的安全措施。为使得喷雾状态保持在最佳，气体传输过程中的保护也是必要的。
- 一种半可拆卸式的高纯铂进样管，可以降低来自进样过程中的污染。
- 一对高纯G-系列铂尖端界面锥体，可增加耐腐蚀性样品和酸性样品的寿命。
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